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　　X射線熒光光譜分析儀因其對元素分析有著的性能，而非常受市場的歡迎。X射線熒光光譜分析儀是光譜儀的一種，其在運行過程中有時會出現計數率不穩(wěn)定的情況。X射線熒光光譜分析儀的常用探測器有二個：閃爍計數器和流氣計數器。兩者相比較而言，閃爍計數器比流氣計數器更穩(wěn)定。因此，X射線熒光光譜分析儀出現計數率不穩(wěn)定的情況時，其問題通常出現在流氣計數器上。

 

　　流氣計數器窗膜由一塊聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜鍍上一層很薄的鋁膜所構成，由于窗膜承受大氣壓力，一段時間后隨著基體材料的延展，鋁膜可能產生裂紋，從而減弱導電性能，這種情況對脈沖高度分布影響不大，但會使計數率不穩(wěn)定。檢查方法：在低X射線光管功率情況下，選一個KKα計數率約2000CPS的樣品，測定計數率，然后用一個鉀含量高的樣品取代原樣品，將光管調到滿功率，保持2分鐘，再將X射線光管功率減至原值，測量*個樣品，如窗膜導電正常，將得到原計數率，如窗膜導電性能變差，會發(fā)現計數率減小，然后慢慢回升至初始值，這種情況下就應對窗膜進行調換。

 

　　X射線熒光光譜分析儀出現計數率不穩(wěn)定的情況時，應及時對儀器進行檢查，尋找到故障原因并進行排除。